自動四探針電阻率測試儀步驟及流程1. 開啟電源,預(yù)熱5分鐘.2. 裝配好探頭和測試平臺.3. 設(shè)定所需參數(shù).4. 測量樣品5. 導出數(shù)據(jù).

自動四探針電阻率測試儀適用范圍widely used:1.覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ito導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ito導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,pcb銅箔膜,3.emi涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,4.抗靜電材料, emi 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

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功能描述deion:1. 四探針組合雙電測量方法2. 液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.4. 選配:pc軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

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參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-5～2×105ω/□

2.電阻率范圍:10-6～2×106ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μa ,1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100 ma

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: ac 220v±10% ,50hz 功 耗:<30w

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件;選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

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電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的方法很多,四探針法是一種廣泛采用的標準方法。它的優(yōu)點是設(shè)備簡單、操作方便,精確度高,對樣品的形狀無嚴格要求。直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上,并且間距相等,都是S,一般采用0.5mm的間距,不同的探針間距需要對測量結(jié)果做相應(yīng)的校正。一般四探針電阻率(電導率)測試儀均已配置厚度的修正,通過厚度數(shù)值的設(shè)置,計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。

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